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郝跃
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1.
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
订购中
著者:
郝跃
刘红侠
出版社:
科学出版社
出版日期: 2008
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/106
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2.
电可改写非挥发存储器
订购中
著者:
于宗光
郝跃
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2002
文献类型:
图书 , 索书号:
TP333/15
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内容简介
著者简介
3.
碳化硅宽带隙半导体技术
已借1次.
订购中
著者:
郝跃
彭军
杨银堂
出版社:
科学出版社
出版日期: 2000
文献类型:
图书 , 索书号:
TN304.2/4
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