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rows=10&curlibcode=XT&searchWay0=marc&logical0=AND
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Semiconductor technology
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Semiconductor technology
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T 工业技术
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20000702d1984 km y0engy0120 ba
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20000917d1998 km y0engy0120 ba
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20011129d1980 km y0engy0120 ba
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(美)michael quirk,(美)julian serda
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20000620d1979 km y0engy0120 ba
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20000703d1983 km y0engy0120 ba
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20000915d1998 km y0engy0120 ba
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20010117d1998 km y0engy0120 ba
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20010611d1981 km y0engy0120 ba
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julian
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michael
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society of photo-optical instrumentation engineers
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tutorial symposium on semiconductor technology(1982:montreal,canada)
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叶志镇
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王兴宗
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1.
封面仅供参考
Semiconductor technologies
订购中
著者:
J.Nishizawa.
出版社:
OHM
出版日期: 1984
文献类型:
图书 , 索书号:
TN3/S471
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2.
封面仅供参考
Semiconductor technology
订购中
著者:
Tutorial Symposium on Semiconductor Technology(1982:Montreal
Canada)
出版社:
Electrochemical Society Inc.
出版日期: 1982
文献类型:
图书 , 索书号:
TN3-53/T966
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封面仅供参考
Semiconductor technologies,1984
订购中
著者:
J.Nishizawa.
出版社:
OHM
出版日期: 1984
文献类型:
图书 , 索书号:
TN3/S471/1984
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4.
封面仅供参考
Silicon semiconductor technology
订购中
著者:
Runyan
出版社:
McGraw-Hill
出版日期: 1965
文献类型:
图书 , 索书号:
15.1010217/R943
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5.
封面仅供参考
Engyclopedia of semiconductor technology
订购中
著者:
Grayson
出版社:
John Wiley & Sons
出版日期: 1984
文献类型:
图书 , 索书号:
TN3-61/C784
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6.
封面仅供参考
Spectroscoscopic characterization techniques for semiconductor technology'ii
订购中
著者:
Fred H.Pollak
出版社:
SPIE-the International Society for Optical Egnineering
出版日期: 1985
文献类型:
图书 , 索书号:
TN3-53/S741/2
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7.
封面仅供参考
Optical characterization techniques for semiconductor technology
订购中
著者:
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
出版社:
The Society fo Photo-Optical Instrumentation Engineer
出版日期: 1981
文献类型:
图书 , 索书号:
TN305-53/S678/1981
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8.
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Semiconductor device technology
订购中
著者:
Goodge
出版社:
Howard W.Sams & Co.
出版日期: 1983
文献类型:
图书 , 索书号:
TN305/G651
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9.
封面仅供参考
Semiconductor measurement technology
订购中
著者:
Michael
出版社:
Department of commerce
出版日期: 1981
文献类型:
图书 , 索书号:
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10.
封面仅供参考
Semiconductor Measurement Technology
订购中
著者:
Kenney
出版社:
U.S. Covernment Printing Office
出版日期: 1980
文献类型:
图书 , 索书号:
f4089728
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